Hoge precisie semi-automatische zichtmeetmachine iSemi Serie IMS-5040C
VisiemeetmachineProductkenmerk:
VisiemeetmachineTechnische Sspecificaties:
Product | Hoge precisie semi-automatische zichtmeetmachineiSemi-serie | ||||
Model | IMS-2010D | IMS-2515D | IMS-3020D | IMS-4030D | IMS-5040D |
Marmeren werkbank | (270*350) mm | (408*308) mm | (458*358) mm | (608*470) mm | (650*580)mm |
Glazen werkbank | (142*242) mm | (306*198)mm | (356*248)mm | (456*348) mm | (540*440) mm |
X/Y-as Reizen | (200*100)mm | (250*150) mm | (300*200)mm | (400*300)mm | (500*400)mm |
Z-as verplaatsing | Zeer nauwkeurige lineaire geleiding, effectieve slag 200 mm | ||||
X/Y/Z aixs-resolutie | 0,5um | ||||
Sokkel en staanders | Graniet met hoge precisie | ||||
Meetnauwkeurigheid* | XY aixs:≤2,5+L/200(um) ;Zais:≤5+L/200(um) | ||||
Nauwkeurigheid opnieuw | 2um | ||||
Verlichtingssysteem (softwareaanpassing) | Oppervlakte 4 ringen en 8 zones traploos instelbare LED koude verlichting | ||||
Contour LED-parallelle verlichting | |||||
Optioneel coaxiaal licht | |||||
Digitale camera | 1/2,9"/1,6 megapixel digitale camera met hoge resolutie | ||||
Zoomlens | 6,5X zoomlens met elektronische feedback en hoge resolutie, optische vergroting: 0,7X ~ 4,5X; Videovergroting: 20X~129X | ||||
Meetsoftware | iMeten | ||||
Besturingssysteem | Ondersteuning WIN 10/11-32/64 besturingssysteem | ||||
Taal | Engels, Vereenvoudigd Chinees, Traditioneel Chinees, Optioneel andere taalversies | ||||
Werkomgeving | Temperatuur 20℃±2℃, temperatuurverandering <1℃/uur; Vochtigheid 30% ~ 80% RV; Trillingen <0,02 g, ≤15 Hz. | ||||
Voeding | AC220V/50Hz; 110V/60Hz | ||||
Afmeting (BxDxH) | (677*552*998) mm | (790*617*1000) mm | (838*667*1000) mm | (1002*817*1043) mm | (1111*867*1086) mm |
Verpakkingsafmetingen (BxDxH) | (1030*780*1260) mm | (1030*780*1260) mm | (1030*780*1260) mm | (1130*1000*1270) mm | (1250*1035*1460) mm |
Bruto/netto gewicht | 220/150 kg | 242/175 kg | 275/185 kg | 449/350 kg | 550/380 kg |
Opmerking:
"L" vertegenwoordigt de gemeten lengte in millimeters, en de mechanische nauwkeurigheid van de Z-as is sterk afhankelijk van de scherpstelnauwkeurigheid en het oppervlak van het werkstuk.
De vergroting is een geschatte waarde en hangt nauw samen met de grootte en resolutie van het scherm.
Klanten kunnen ervoor kiezen om een 0,5X of 2X hulplens toe te voegen, afhankelijk van hun behoeften om een beeldvergroting te bereiken.
iMS-2010/5040 zijn werkbanken van marmer, terwijl iMS-2515/3020/4030 werkbanken zijn van metaal.
Productconfiguratie Modelbeschrijving (voorbeeld met iMS-5040):
Sensorconfiguratie | 2,5D | 3D | 2,5D | 3D |
Product | 2.5D visie-meetmachine | 3D-contact- en zichtmeetmachine | 2.5D halfautomatische zichtmeetmachine | 3D halfautomatische contact- en zichtmeetmachine |
Model | iMS-5040A | iMS-5040B | iMS-5040C | iMS-5040D |
Type | A | B | C | D |
Betekenis | Optische zoomlenssensor |
Zoomlenssensor en Neem contact op met sondesensor |
Zoomlenssensor en Z-as autofocusfunctie | Zoomlenssensor, contactsondesensor en autofocusfunctie |
Z-as autofocus | Zonder | Zonder | Met | Met |
Contactsonde | Zonder | Met | Zonder | Met |
Software | iMeten2.1 | iMeten3.1 | iMeten2.2 | iMeten3.2 |
Handmatige vision-meetmachinemodellen en specificaties:
Model | Code# | Model | Code# | Model | Code# | Model | Code# | Model | Code# |
IMS-2010A | 521-120E | IMS-2515A | 521-120F |
IMS-3020A |
521-120G |
IMS-4030A | 521-120H | IMS-5040A | 521-120J |
IMS-2010B | 521-220E | IMS-2515B | 521-220F | IMS-3020B | 521-220G | IMS-4030B | 521-220H | IMS-5040B | 521-220J |
IMS-2010C | 521-320E | IMS-2515C | 521-320F | IMS-3020C | 521-320G | IMS-4030C | 521-320H | IMS-5040C | 521-320J |
IMS-2010D | 521-420E | IMS-2515D | 521-420F | IMS-3020D | 521-420G | IMS-4030D | 521-420H | IMS-5040D | 521-420J |
IMS-6040A | 521-120K | IMS-6040B | 521-220K | IMS-6040C | 521-320K | IMS-6040D | 521-420K | ------ | ------ |
Handleiding Vision Meetmachine Reisgids Tabel:
Reis mm | Model | X-as verplaatsing mm | Y-as verplaatsing mm |
Z-as standaard reizen mm |
Z-as Maximale aangepaste verplaatsing mm |
100x100x100 | IMS-1010 | 100 | 100 | 100 | ------ |
200x100x200 | IMS-2010 | 200 | 100 | 200 | 300 |
250x150x200 | IMS-2515 | 250 | 150 | 200 | 300 |
300x200x200 | IMS-3020 | 300 | 200 | 200 | 400 |
400x300x200 | IMS-4030 | 400 | 300 | 200 | 400 |
500x400x200 | IMS-5040 | 500 | 400 | 200 | 400 |
600x400x200 | IMS-6040 | 600 | 400 | 200 | 400 |
VisiemeetmachineStructurele tekeningen:
VisiemeetmachineIndustrietoepassing:
Optische meetmachine OMM, ook bekend als Vision-meetmachine en contactloze meetmachine, tweedimensionale meetmachine, 2,5-dimensionale meetmachine, met de modernisering van de moderne industriële hoge precisie- en micro-productie-industrie, gebruikt het contactloze optische beeldmeetmethode voor snelle en nauwkeurige meting. Het meten van geometrische afmetingen en geometrische toleranties wordt onvermijdelijk.
Optische meetmachines zijn geschikt voor alle toepassingsgebieden voor coördinatenmetingen en worden veel gebruikt in machines, elektronica, instrumenten, hardware, kunststoffen en andere industrieën. Zoals: mallen, schroeven, metalen, accessoires, rubber, printplaten, veren, hardware, elektronica, kunststoffen, luchtvaart, ruimtevaart, enz., het overwint de tekortkomingen van traditionele schuifmaat, micrometers en profielprojectoren, wat een hoge -precisie, hoge efficiëntie en hoge betrouwbaarheid meetmachine die optische, mechanische, elektronische en computerbeeldverwerkingstechnologieën integreert.
Het te meten object wordt vergroot door het optische vergrotingssysteem. Nadat de beeldkenmerken door het CCD-camerasysteem zijn verzameld en door computer- en software-algoritmen zijn verwerkt, kunnen de contour- en oppervlaktevorm, grootte, hoek en positie van verschillende complexe en nauwkeurige onderdelen automatisch worden gedetecteerd. Micro-inspectie en kwaliteitscontrole. De meetgegevens kunnen in AUTOCAD worden geïmporteerd om een complete technische tekening te worden, en documenten in DXF, IGS en andere formaten kunnen worden gegenereerd, en kunnen ook worden geïmporteerd in WORD, EXCEL en SPC statistische analysesoftware om CPK en diverse statistische rapporten te genereren.